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 Degradation mechanism during catastrophic optical damage in 385 nm GaN-based ultraviolet laser diodes 385 nm GaN基紫外激光二极管灾难性光学损伤过程中的退化机制
相关领域
光电子学
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Yujie Huang; Jing Yang; Degang Zhao; Zongshun Liu; Ping Chen; et al 出版日期：2024-10-21 |
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