| 标题 |
 Comparative Investigation on Aging Precursor and Failure Mechanism of Commercial SiC MOSFETs under Different Power Cycling Conduction Modes 不同功率循环导电模式下商用SiC MOSFET老化前驱体及失效机制的比较研究
相关领域
动力循环
材料科学
可靠性（半导体）
MOSFET
温度循环
降级（电信）
功率MOSFET
栅氧化层
失效机理
压力（语言学）
热传导
加速老化
光电子学
电子工程
功率（物理）
电气工程
晶体管
电压
工程类
复合材料
热的
语言学
物理
哲学
量子力学
气象学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Mei Wang; Y. Chen; He Zhiyuan; Zhaohui Wu; Bin Li 出版日期：2023-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
杳鸢
请叫我风吹麦浪
毛豆
无名老大
SYLH
个性的紫菜
kingwill
坚强的广山
神勇的雅香
劲秉
眯眯眼的衬衫
36456657
zho
Jenny
迟大猫
Hungrylunch
子车茗
kento
lalala
天真蓝
皖公网安备34019202002308
