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![]() 影响先进电子封装用Cu/Sn纳米线界面反应的Cu微观结构和Sn供应研究
相关领域
微观结构
纳米线
材料科学
电子包装
冶金
纳米技术
复合材料
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期刊:ACS Applied Electronic Materials 作者:Kexin Chen; R.H. Li; Li‐Yin Gao; Zhichao Meng; Chang Liu; et al 出版日期:2025-02-05 |
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