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 S. İlik and M. B. Yelten, "Total Ionizing Dose (TID) Impact on Basic Amplifier Stages," in IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, vol. 23, no. 1, pp. 51-57, March 2023 S.Ilik和M.B.Yelten，“总电离剂量(TID)对基本放大器级的影响”，IEEE器件和材料可靠性汇刊，第一卷。23，没有。1，第51-57页，2023年3月
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