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Variation of Hydrogen Bonding, Depth Profiles, and Spin Density in Plasma‐Deposited Silicon Nitride and Oxynitride Film with Deposition Mechanism
等离子体沉积的氮氧化硅薄膜中的氢键、深度分布和旋转密度随沉积机制的变化
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期刊:Journal of The Electrochemical Society 作者:Van Son Nguyen; W. A. Lanford; Anne L. Rieger 出版日期:1986-05-01 |
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