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 Three-dimensional detection and quantification of defects in SiC by optical coherence tomography 光学相干层析法三维检测和定量SiC中的缺陷
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期刊：Applied Optics 作者：Pei Ma; Jiajie Ni; Jiawei Sun; Xuedian Zhang; Junyin Li 出版日期：2020-02-19 |
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