标题 |
New SIMS method to characterize hydrogen in polysilicon films
表征多晶硅薄膜中氢的SIMS新方法
相关领域
二次离子质谱法
分析化学(期刊)
薄膜
氧化物
离子
硅
材料科学
氢
氧化硅
星团(航天器)
化学
纳米技术
光电子学
氮化硅
有机化学
程序设计语言
冶金
色谱法
计算机科学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B 作者:Xue-feng Lin; Agi Fucsko; Kari Noehring; Elaine Gabriel; Adam Regner; et al 出版日期:2022 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|