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High-quality remote plasma enhanced atomic layer deposition of aluminum oxide thin films for nanoelectronics applications
用于纳米电子学应用的高质量远距离等离子体增强原子层沉积氧化铝薄膜
相关领域
原子层沉积
材料科学
薄膜
X射线光电子能谱
光电子学
氧化物
分析化学(期刊)
纳米技术
化学工程
化学
冶金
色谱法
工程类
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期刊:Solid-state electronics 作者:Robin Khosla; Daniel Schwarz; Hannes S. Funk; Kateryna Guguieva; Jörg Schulze 出版日期:2021-11-01 |
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