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Lattice defects distribution of H+ implanted 4H-SiC investigated by deep-ultraviolet Raman spectroscopy
深紫外拉曼光谱研究H+注入4H-SiC晶格缺陷分布
相关领域
材料科学
拉曼光谱
紫外线
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期刊:Journal of vacuum science & technology. A. Vacuum, surfaces, and films 作者:G.W Wang; Wenbo Luo; Dailei Zhu; Yuedong Wang; Yao Shuai; et al 出版日期:2024-05-22 |
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