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 Insights into the Origins of Minority Carrier Traps in Solution‐Processed Organic Semiconductors and Their Effects on Transistor Photostability 溶液处理有机半导体中少数载流子陷阱的起源及其对晶体管光稳定性的影响
相关领域
材料科学
有机半导体
晶体管
光电子学
有机场效应晶体管
半导体
带隙
降级（电信）
载流子寿命
纳米技术
场效应晶体管
化学物理
化学
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电气工程
电压
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电信
硅
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期刊：Advanced electronic materials 作者：Xiaobin Ruan; Shuiling Cheng; Wei Deng; Yuan Tan; Lu Zhang; et al 出版日期：2022-07-07 |
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