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Effect of UV irradiation on the resistive switching characteristics of low-temperature solution-processed ZrO2 RRAM
紫外辐照对低温溶液处理ZrO2 RRAM电阻开关特性的影响
相关领域
电阻随机存取存储器
辐照
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Yubin Lee; Jungmo Jung; Dongho Shin; James Jungho Pak 出版日期:2021-06-29 |
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