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Versatile technique for assessing thickness of 2D layered materials by XPS
用XPS评估二维层状材料厚度的通用技术
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期刊:Nanotechnology 作者:Dmitry Zemlyanov; Michael L. Jespersen; Dmitry N Zakharov; Jianjun Hu; Rajib Paul; et al 出版日期:2018-01-11 |
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