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Threshold voltage dependence on channel length in amorphous-indium-gallium-zinc-oxide thin-film transistors
非晶态铟镓锌氧化物薄膜晶体管阈值电压与沟道长度的关系
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Da Hyun Kang; Ji Ung Han; Mallory Mativenga; Su Hwa Ha; Jin Jang 出版日期:2013-02-25 |
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