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Elucidating Critical Origin for Capacity Fading in High-voltage Coin Cell with FSI-based Electrolyte
用FSI基电解液阐明高压硬币电池容量衰减的关键原因
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期刊:Chemical Engineering Journal 作者:YeoJi Bae; Hae Gon Lee; Yoon Jun Kim; Ga Ram Kim; Jun-Woo Park; et al 出版日期:2023-08-01 |
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