| 标题 |
 Precision interferometric surface metrology of transparent thin film using wavelength tuning 基于波长调谐的透明薄膜精密干涉表面计量
相关领域
材料科学
光学
薄膜
干涉测量
干扰（通信）
波长
白光干涉法
氧化铟锡
计量学
表面计量学
相（物质）
光电子学
轮廓仪
表面光洁度
计算机科学
纳米技术
复合材料
物理
频道（广播）
有机化学
化学
计算机网络
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of mechanical science and technology 作者：Yangjin Kim 出版日期：2017-11-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
从容芮
乐乐乐乐乐乐
加菲丰丰
Priscilla
VDC
王福栋
寻道图强
YifanWang
樱桃猴子
杳鸢
spark810
爱静静
贰鸟
shinysparrow
美好斓
Ava
Frank
英俊的铭
万能图书馆
SciGPT
皖公网安备34019202002308
