| 标题 |
 On the use of a bias-light correction for trapping effects in photoconductance-based lifetime measurements of silicon 基于光电导的硅寿命测量中俘获效应偏光校正的应用
相关领域
硅
俘获
载流子寿命
薄脆饼
材料科学
航程（航空）
光电导性
光电子学
重组
光强度
光学
物理
化学
生态学
生物化学
基因
复合材料
生物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Applied Physics 作者：Daniel Macdonald; Ronald A. Sinton; Andrés Cuevas 出版日期：2001-03-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
Singularity
坚强的广山
不配.
带头大哥
paparazzi221
Yziii
HEIKU
寻道图强
lch23560
好困
pluto
星辰大海
shinysparrow
iNk
夏远航
pcr163
Leonardi
子车茗
InfoNinja
宜醉宜游宜睡
皖公网安备34019202002308
