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Quantification of Thin Film Crystallographic Orientation Using X-ray Diffraction with an Area Detector
用面积探测器X射线衍射定量薄膜晶体取向
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期刊:Langmuir 作者:Jessica L. Baker; Leslie H. Jimison; Stefan C. B. Mannsfeld; Steven K. Volkman; Shong Yin; et al 出版日期:2010-04-02 |
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