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 Temperature Impacts on Endurance and Read Disturbs in Charge-Trap 3D NAND Flash Memories 温度对电荷陷阱3D NAND闪存耐久性和读取干扰的影响
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期刊：Micromachines 作者：Fei Chen; Bo Chen; Hongzhe Lin; Yachen Kong; Xin Liu; et al 出版日期：2021-09-25 |
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