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 Semiconductor core-level to valence-band maximum binding-energy differences: Precise determination by x-ray photoelectron spectroscopy 半导体核能级与价带最大结合能差：x射线光电子能谱精确测定
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期刊：Physical review. B, Condensed matter 作者：E. A. Kraut; R. W. Grant; J. R. Waldrop; S. P. Kowalczyk 出版日期：1983-08-15 |
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