| 标题 |
 Study on the high-temperature triggering and holding characteristics of PDSOI SCR devices PDSOI SCR器件的高温触发和保持特性研究
相关领域
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| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：J.X. Wang; F.Z. Zhao; Tianyu Ni; D.L. Li; Linchun Gao; et al 出版日期：2021-11-01 |
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