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Characterization by XAS of NiO Thin Films Prepared by Pulsed LASER Deposition
相关领域
材料科学
薄膜
X射线吸收光谱法
脉冲激光沉积
非阻塞I/O
分析化学(期刊)
表征(材料科学)
基质(水族馆)
光电子学
沉积(地质)
光谱学
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其它 |
期刊:Physica Scripta 作者:J. Moscovici; I. Bouessay; A. Rougier; A. Michalowicz 出版日期:2005-09-20 |
求助人 |
豆豆 在
2021-08-23 16:16:10 发布,悬赏 10 积分
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