标题 |
Advanced EUV negative tone resist and underlayer approaches exhibiting sub-20nm half-pitch resolution
相关领域
极紫外光刻
材料科学
抵抗
极端紫外线
光电子学
平版印刷术
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DOI | |
其它 |
期刊:Advances in Patterning Materials and Processes XXXVI 作者:Thomas Gädda; Luong Nguyen Dang; Markus Laukkanen; Kimmo Karaste; Oskari Kähkönen; et al 出版日期:2019 |
求助人 |
宁友灵 在
2022-05-09 16:06:33 发布,悬赏 10 积分
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