标题 |
Enhancing Uniformity, Read Voltage Margin, and Retention in Three-Dimensional and Self-Rectifying Vertical Pt/Ta2O5/Al2O3/TiN Memristors
提高三维自整流垂直Pt/Ta2O5/Al2O3/TiN忆阻器的均匀性、读取电压裕度和保持率
相关领域
材料科学
锡
分析化学(期刊)
冶金
色谱法
化学
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DOI | |
其它 |
期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:T. Park; Ji‐Won Moon; Dong‐Hoon Shin; Hae Jin Kim; Seung Soo Kim; et al 出版日期:2024-11-12 |
求助人 | |
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