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 Mapping of Trap Densities and Hotspots in Pentacene Thin‐Film Transistors by Frequency‐Resolved Scanning Photoresponse Microscopy 用频率分辨扫描光响应显微镜绘制并五苯薄膜晶体管中的陷阱密度和热点
相关领域
并五苯
材料科学
光电子学
存水弯（水管）
薄膜晶体管
显微镜
晶体管
纳米技术
分析化学（期刊）
光学
电气工程
图层（电子）
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化学
电压
工程类
物理
环境工程
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期刊：Advanced Materials 作者：Christian Westermeier; Matthias Fiebig; Bert Nickel 出版日期：2013-06-25 |
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