标题 |
Growth of the orthorhombic phase and inhibition of charge injection in ferroelectric HfO2-based MFIS memory devices with a high-permittivity dielectric seed layer
具有高介电常数种子层的铁电HfO2基MFIS存储器件中正交相的生长和电荷注入的抑制
相关领域
材料科学
铁电性
电介质
光电子学
成核
微观结构
正交晶系
介电常数
复合材料
结晶学
化学
晶体结构
有机化学
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其它 |
期刊:Science China. Materials 作者:Yan Zhang; Dao Wang; Jiali Wang; Chunlai Luo; Ming Li; et al 出版日期:2022-07-27 |
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