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Spectral Interferometric Microscopy for Fast and Broadband Phase Characterization
用于快速宽带相位表征的光谱干涉显微镜
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光学
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其它 |
期刊:Advanced Optical Materials 作者:Lior Michaeli; Danielle Ben Haim; Mukesh Sharma; Haim Suchowski; Tal Ellenbogen 出版日期:2020-05-26 |
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