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 Ionizing-Radiation Response and Low-Frequency Noise of 28-nm MOSFETs at Ultrahigh Doses 28nm MOSFET在超高剂量下的电离辐射响应和低频噪声
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材料科学
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Stefano Bonaldo; Serena Mattiazzo; Christian Enz; A. Basçhirotto; Daniel M. Fleetwood; et al 出版日期：2020-03-19 |
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