标题 |
Experience-dependent modification of a central amygdala fear circuit
杏仁核中枢恐惧回路的经验依赖性改变
相关领域
扁桃形结构
大脑中的恐惧处理
神经科学
恐惧条件反射
长时程增强
突触可塑性
心理学
兴奋性突触后电位
抑制性突触后电位
光遗传学
生物
生物化学
受体
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其它 |
期刊:Nature Neuroscience 作者:Hao‐Hong Li; Mario Penzo; Hiroki Taniguchi; Charles D. Kopec; Z. Josh Huang; et al 出版日期:2013-01-27 |
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