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Reliability of InGaAs focal plane array imaging of wheat germination at early stages
小麦萌发早期InGaAs焦平面成像的可靠性研究
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期刊:Journal of Cereal Science 作者:Hicran Koç; Virgil W. Smail; David L. Wetzel 出版日期:2008-09-01 |
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