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 Ab Initio Investigation of Charge Trapping Across the Crystalline-Si–Amorphous-SiO2 Interface 晶体-Si-非晶-SiO2界面电荷俘获的从头计算研究
相关领域
无定形固体
电介质
俘获
电荷（物理）
从头算
半导体
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期刊：Physical Review Applied 作者：Yue-Yang Liu; Fan Zheng; Xiangwei Jiang; Jun-Wei Luo; Shu-Shen Li; Lin-Wang Wang 出版日期：2019-04-19 |
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