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 A general one-step plug-and-probe approach to top-gated transistors for rapidly probing delicate electronic materials 用于快速探测精密电子材料的顶控晶体管的通用一步即插即用方法
相关领域
晶体管
材料科学
光电子学
纳米技术
即插即用
计算机科学
电气工程
电压
操作系统
工程类
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期刊：Nature Nanotechnology 作者：Laiyuan Wang; Peiqi Wang; Jin Huang; Bosi Peng; Chuancheng Jia; et al 出版日期：2022-10-20 |
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