标题 |
Minority carrier lifetime imaging of silicon wafers calibrated by quasi-steady-state photoluminescence
准稳态光致发光标定的硅片少数载流子寿命成像
相关领域
载流子寿命
薄脆饼
光致发光
掺杂剂
材料科学
硅
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其它 |
期刊:Solar Energy Materials and Solar Cells 作者:Johannes Giesecke; Martin C. Schubert; Bernhard Michl; Florian Schindler; Wilhelm Warta 出版日期:2010-12-29 |
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