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Electrical Interrogation of Thickness‐Dependent Multiferroic Phase Transitions in the 2D Antiferromagnetic Semiconductor NiI2
2D反铁磁性半导体NiI2中厚度相关多铁性相转变的电询问
相关领域
材料科学
反铁磁性
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期刊:Advanced Functional Materials 作者:Dmitry Lebedev; J. Tyler Gish; Ethan S. Garvey; Teodor K. Stanev; Junhwan Choi; et al 出版日期:2023-01-12 |
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