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Double stack layer structure of SiN x /pm-Si thin films for downshifting and antireflection properties
SiN x/pm-Si薄膜的双堆叠层结构用于降频和减反射性能
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期刊:Materials Letters 作者:E. Mon-Pérez; A. Dutt; J. Santoyo-Salazar; M. Sánchez; G. Santana 出版日期:2017-05-30 |
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