| 标题 |
 High temperature reliability testing of aluminum and tantalum electrolytic capacitors 铝钽电解电容器高温可靠性试验
相关领域
钽电容器
电解电容器
电容器
钽
可靠性（半导体）
薄膜电容器
数码产品
泄漏（经济）
加速寿命试验
可靠性工程
铝
材料科学
电气工程
汽车工程
工程类
电压
冶金
功率（物理）
物理
量子力学
心理学
发展心理学
成熟度（心理）
经济
宏观经济学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：A. Dehbi; W. Wondrak; Yves Ousten; Y. Danto 出版日期：2002-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
加菲丰丰
shinysparrow
寻道图强
可口可乐了
乐乐乐乐乐乐
景辣条
精明元霜
sirius
AireenBeryl531
mmyhn
星辰大海
kento
morena
丘比特
浅尝离白
樱桃猴子
共享精神
123木头人
Singularity
spark810
皖公网安备34019202002308
