标题 |
Low‐Temperature Melt Processing Monolithic Integration of Organic Manganese (II) Bromide Wafers with Pixelated Substrate for High Sensitivity X‐Ray Imaging
用于高灵敏度X射线成像的有机锰(II)溴化片与像素化衬底的低温熔融单片集成
相关领域
材料科学
薄脆饼
光电子学
基质(水族馆)
海洋学
地质学
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DOI | |
其它 |
期刊:Advanced Functional Materials 作者:Hengxin Li; Yutian Lei; Guoqiang Peng; Qian Wang; Zhenhua Li; et al 出版日期:2022-09-25 |
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