标题 |
Relation between sampling, sensitivity and precision in strain mapping using the Geometric Phase Analysis method in Scanning Transmission Electron Microscopy
扫描透射电镜中几何相分析法应变作图中取样、灵敏度和精度的关系
相关领域
灵敏度(控制系统)
透射电子显微镜
相(物质)
材料科学
拉伤
采样(信号处理)
传输(电信)
电子
显微镜
光学
物理
计算机科学
生物
工程类
电子工程
电信
解剖
量子力学
探测器
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Ultramicroscopy 作者:Alexandre Pofelski; Yimei Zhu; Gianluigi A. Botton 出版日期:2024-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|