标题 |
Multi-stage few-shot micro-defect detection of patterned OLED panel using defect inpainting and multi-scale Siamese neural network
基于缺陷修复和多尺度连体神经网络的图案化OLED面板多级少镜头微缺陷检测
相关领域
过度拟合
人工智能
模式识别(心理学)
计算机科学
自编码
人工神经网络
分割
修补
图像(数学)
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网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Intelligent Manufacturing 作者:Shujiao Ye; Zheng Wang; Pengbo Xiong; Xiaojian Xu; Li-Bin Du; et al 出版日期:2023-06-28 |
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