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Vanadium Dioxide by Atomic Layer Deposition: A Promising Material for Next-Generation Memory Devices
原子层沉积二氧化钒:下一代存储器件的一种有前途的材料
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期刊:The Journal of Physical Chemistry Letters 作者:Thomas Ratier; Salomé Rigollet; Paolo Martins; Patrick Garabedian; Etienne Eustache; David Brunel 出版日期:2024 |
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