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![]() 基于双陷波的压电纳米扫描仪李萨如扫描轨迹跟踪重复控制
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期刊:IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者:Linlin Li; Weiwei Huang; Xiangyuan Wang; Limin Zhu 出版日期:2022-01-01 |
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