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Negative bias instability in 4H-SiC MOSFETS: Evidence for structural changes in the SiC
4H-SiC MOSFETS的负偏压不稳定性:SiC结构变化的证据
相关领域
负偏压温度不稳定性
材料科学
MOSFET
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硅
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期刊: 作者:Mark Anders; P. M. Lenahan; Aivars J. Lelis 出版日期:2015-04-01 |
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