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An Open Circuit Voltage Decay System for a Flexible Method for Characterization of Carriers’ Lifetime in Semiconductor
用于表征半导体载流子寿命的灵活方法的开路电压衰减系统
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期刊:Key Engineering Materials 作者:Khaoula Amri; Rabeb Belghouthi; Michel Aillerie; R. Gharbi 出版日期:2021-05-18 |
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