In situ measurements of stress evolution in silicon thin films during electrochemical lithiation and delithiation

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标题	In situ measurements of stress evolution in silicon thin films during electrochemical lithiation and delithiation 硅薄膜电化学锂化和脱锂过程中应力演化的原位测量相关领域材料科学原位硅电极压力（语言学）薄膜电化学化学工程纳米技术冶金工程类化学有机化学语言学哲学物理化学
网址	https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2010.02.013
DOI	10.1016/j.jpowsour.2010.02.013 doi
其它	期刊：Journal of Power Sources 作者：Vijay A. Sethuraman; Michael J. Chon; Maxwell Shimshak; Venkat Srinivasan; Pradeep R. Guduru 出版日期：2010-08-01
求助人	跳跃志泽在 2024-10-13 17:41:34 发布自上海，悬赏 10 积分
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