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 Domain configurations due to multiple misfit relaxation mechanisms in epitaxial ferroelectric thin films. I. Theory 外延铁电薄膜中多重失配弛豫机制引起的畴构型。I.理论
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：James S. Speck; W. Pompe 出版日期：1994-07-01 |
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