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Rapid Characterization of Ultrathin Layers of Chalcogenides on SiO2/Si Substrates
SiO2/Si衬底上硫族化物超薄层的快速表征
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期刊:Advanced Functional Materials 作者:Dattatray J. Late; Bin Liu; H. S. S. Ramakrishna Matte; C. N. R. Rao; Vinayak P. Dravid 出版日期:2012-02-16 |
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