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 Deep insights into the Interplay of Polarization Switching, Charge Trapping, and Soft Breakdown in Metal-Ferroelectric-Metal-Insulator-Semiconductor Structure: Experiment and Modeling 深入了解金属-铁电-金属-绝缘体-半导体结构中极化开关、电荷俘获和软击穿的相互作用：实验和建模
相关领域
铁电性
极化（电化学）
材料科学
半导体
俘获
金属浇口
光电子学
金属
凝聚态物理
纳米技术
电压
物理
化学
电介质
量子力学
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生态学
物理化学
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生物
栅氧化层
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| 其它 |
期刊：2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：Xiaolin Wang; Chen Sun; Zijie Zheng; Leming Jiao; Zuopu Zhou; et al 出版日期：2022-12-03 |
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