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 Crystallographic Orientation Analysis of Nanocrystalline Tungsten Thin Film Using TEM Precession Electron Diffraction and SEM Transmission Kikuchi Diffraction 用TEM进动电子衍射和SEM透射菊池衍射分析纳米钨薄膜的晶体学取向
相关领域
纳米晶材料
材料科学
菊池线
透射电子显微镜
电子背散射衍射
电子衍射
衍射
结晶学
钨
反射高能电子衍射
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物理
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Jiwon Jeong; Woo-Sung Jang; Kwang Hun Kim; Aleksander Kostka; Gilho Gu; et al 出版日期：2021-02-05 |
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