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Dynamics of a Stochastic SVEIR Epidemic Model Incorporating General Incidence Rate and Ornstein–Uhlenbeck Process
一类包含一般发病率和Ornstein-Uhlenbeck过程的随机SVEIR流行病模型的动力学
相关领域
遍历性
奥恩斯坦-乌伦贝克过程
平稳分布
数学
李雅普诺夫函数
消光(光学矿物学)
应用数学
统计物理学
随机过程
分布(数学)
理论(学习稳定性)
流行病模型
随机建模
数学分析
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期刊:Journal of Nonlinear Science 作者:Xinhong Zhang; Tan Su; Daqing Jiang 出版日期:2023-06-25 |
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