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Evolution of Ferroelectric Properties in SmxBi1–xFeO3 via Automated Piezoresponse Force Microscopy across combinatorial spread libraries
通过组合扩散库的自动压电响应力显微镜研究SmxBi1-xFeO3铁电性质的演变
相关领域
压电响应力显微镜
铁电性
材料科学
显微镜
纳米技术
计算机科学
物理
电介质
光电子学
光学
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其它 |
期刊:ACS Nano 作者:Aditya Raghavan; Rohit Pant; Ichiro Takeuchi; Nicholas V. Morozovsky; Martí Checa; et al 出版日期:2024-09-06 |
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