| 标题 |
 Effects of Charge Trapping on Memory Characteristics for HfO2-Based Ferroelectric Field Effect Transistors 电荷俘获对HfO2基铁电场效应晶体管存储特性的影响
相关领域
材料科学
铁电性
俘获
晶体管
电荷（物理）
光电子学
场效应晶体管
电导
调制（音乐）
电气工程
电压
凝聚态物理
物理
工程类
声学
生态学
电介质
生物
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nanomaterials 作者：Jianjian Wang; Jinshun Bi; Youqian Xu; Gang Niu; Mengxin Liu; et al 出版日期：2023-02-06 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
oceanao
彭于彦祖
tianzml0
吃不饱星球球长
爱静静
婷婷
iNk
Henry
shinysparrow
iWatchTheMoon
嗯哼
HEIKU
Singularity
8R60d8
rosalieshi
加菲丰丰
高xuewen
子车茗
tuanheqi
几酌
皖公网安备34019202002308
